RoHS能量色散X熒光光譜儀各組成部件的功能特點介紹
2025-07-17
在現(xiàn)代材料分析領(lǐng)域，RoHS能量色散X熒光光譜儀因其快速、無損和高精度的特點而被廣泛應(yīng)用。從環(huán)境監(jiān)測到工業(yè)質(zhì)量控制，再到考古學(xué)研究，EDXRF都能提供關(guān)鍵的元素分析數(shù)據(jù)。本文將詳細(xì)介紹RoHS能量色散X熒光光譜儀各組成部件的功能特點，幫助用戶更好地理解和使用這一強(qiáng)大的分析工具。1...
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簡述XRF熒光光譜合金分析儀常用的三種測量方法
XRF熒光光譜合金分析儀是用于銅合金及其合金材料中硅、銅、鐵、鎂、鈦、錳、鉻、鎳、鋅、銅、錫、鉛等元素分析的三通道光電分析儀。這一儀器在技術(shù)基礎(chǔ)上，采用了“智能動態(tài)跟蹤”和“標(biāo)準(zhǔn)曲線的非線性回歸”等*技術(shù)，使傳統(tǒng)的儀的日常調(diào)整和標(biāo)樣曲線的建立方法起了根本性的變化，現(xiàn)已大量地應(yīng)用在冶金、機(jī)械、化工等三班倒連續(xù)作業(yè)以及雜技上對固定的場合，如爐前、成品來料化驗等。該儀器要求具有高的分辨率和信噪比、更好的強(qiáng)度準(zhǔn)確性和波長準(zhǔn)確性以及強(qiáng)的抗外界干擾性和優(yōu)良的儀器穩(wěn)定性，在儀器的軟件上，要...
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鍍層測厚儀EDX8000T plus全新發(fā)布
鍍層測厚儀EDX8000Tplus全新發(fā)布經(jīng)過多年研發(fā)，英飛思科學(xué)儀器全新推出X射線熒光光譜鍍層測厚儀。主要優(yōu)點：微光斑垂直光路，專為鍍層厚度分析而設(shè)計高計數(shù)率硅漂移檢測器(SDD)可實現(xiàn)快速，無損，高精度測量高分辨率樣品觀測系統(tǒng)，精確的點位測量功能有助于提高測量精度全系列標(biāo)配薄膜FP無標(biāo)樣分析法軟件，可同時對多層鍍層及全金鍍層厚度和成分進(jìn)行測量背景介紹材料的鍍層厚度是一個重要的生產(chǎn)工藝參數(shù)，其選用的材質(zhì)和鍍層厚度直接影響了零件或產(chǎn)品的耐腐蝕性、裝飾效果、導(dǎo)電性、產(chǎn)品的可靠性...
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立訊精密采購三臺英飛思X熒光光譜儀設(shè)備用于鍍層分析和RoHS檢測
8月下旬，立訊精密相關(guān)負(fù)責(zé)人，技術(shù)人員來我司考察儀器，送樣品檢測。我司技術(shù)人員詳細(xì)介紹了儀器的參數(shù)，應(yīng)用，解釋了客戶針對性的各種問題?？蛻籼峁┑膸追N樣品檢測分析后，我司儀器給出的各項數(shù)據(jù)指標(biāo)都準(zhǔn)確合格。立訊精密在和其他廠家對比儀器各項性能指標(biāo)價格后，于9月初選擇英飛思的能量色散X熒光光譜儀--鍍層分析儀和RoHS檢測儀，用于產(chǎn)品的鍍層，鍍液檢測分析，RoHS檢測分析，為產(chǎn)品質(zhì)量牢牢把關(guān)。英飛思鍍層測厚儀/膜厚儀微光斑X射線聚焦光學(xué)器件通過將高亮度一次X射線照射到0.02mm的...
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X熒光光譜礦石分析儀的各個組成系統(tǒng)作用介紹
X熒光光譜礦石分析儀是根據(jù)物質(zhì)基態(tài)原子蒸汽對特征輻射吸收的作用來進(jìn)行金屬元素分析的，它能夠靈敏可靠地測定微量或痕量元素。一般由四大部分組成，即進(jìn)樣系統(tǒng)、反應(yīng)系統(tǒng)、原子化系統(tǒng)和傳輸系統(tǒng)。今天咱們來了解下X熒光光譜礦石分析儀的各個組成系統(tǒng)：1、進(jìn)樣系統(tǒng)該儀器采用連續(xù)流動進(jìn)樣，與傳統(tǒng)的樣品、載流交替進(jìn)入的斷續(xù)進(jìn)樣系統(tǒng)相比，連續(xù)流動進(jìn)樣技術(shù)既克服傳統(tǒng)進(jìn)樣方式下蠕動泵老化進(jìn)樣量不準(zhǔn)的問題，又避免使用易腐蝕漏液、價格昂貴的注射泵。同時，連續(xù)流動進(jìn)樣技術(shù)大大提高了檢測速度，將測試一個樣品三...
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使用X熒光光譜礦石分析儀時所需要注意的事項介紹
元素的原子受到高能輻射激發(fā)而引起內(nèi)層電子的躍遷，同時發(fā)射出具有一定特殊性波長的X射線，根據(jù)莫斯萊定律，熒光X射線的波長λ與元素的原子序數(shù)Z有關(guān)，其數(shù)學(xué)關(guān)系如下:λ=K(Z?s)?2，式中K和S是常數(shù)。而根據(jù)量子理論，X射線可以看成由一種量子或光子組成的粒子流，每個光具有的能量為:E=hν=hC/λ式中，E為X射線光子的能量，單位為keV;h為普朗克常數(shù);ν為光波的頻率;C為光速。X熒光光譜礦石分析儀作為一種大型精密無機(jī)分析儀器，是集光、機(jī)、電、計算機(jī)、分析技術(shù)于一體的高新技術(shù)...
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英飛思中標(biāo)攀鋼集團(tuán)有限公司能量色散XRF熒光光譜儀項目
英飛思中標(biāo)攀鋼集團(tuán)有限公司能量色散XRF熒光光譜儀項目2022年6月，我司EDX9000Bplus型光譜儀成功中標(biāo)攀鋼集團(tuán)有限公司能量色散XRF熒光光譜儀項目，并于7月完成安裝及調(diào)試工作，獲得客戶好評和認(rèn)可。英飛思EDX9000Bplus光譜儀主要應(yīng)用于采礦作業(yè)（勘探、開采、品位控制），工業(yè)礦物，生產(chǎn)水泥和建筑材料的原材料，耐火材料，陶瓷和玻璃，地球化學(xué)學(xué)術(shù)研究，考古等。EDX9000Bplus優(yōu)異的線性動態(tài)范圍，可實現(xiàn)在水泥、礦物、采礦、金屬、玻璃和陶瓷行業(yè)進(jìn)行超高精度的過...
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便攜式油品硫氯分析儀全新發(fā)布
英飛思科學(xué)儀器于2022年七月全新發(fā)布便攜式油品硫氯分析儀Compass4294plus新設(shè)備不僅升級了真空樣品測試系統(tǒng)，配備了更高階的FastSDD檢測器。并進(jìn)一步提升了儀器是檢測下限，可以同時分析油品中硫和氯元素含量。介紹Compass4294plus能量色散X射線熒光（EDXRF）提供了新的在現(xiàn)場測量石油產(chǎn)品中的硫和氯分析方法，濃度范圍從2ppm到10％不等。為了提高檢測靈敏度，4294plus使用了具有Peltier冷卻功能的高分辨率大面積快速硅漂移檢測器（FSDD）...
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