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  • 立式礦石分析光譜儀EDX8800H MAX

    Simply the Best 美國(guó)AmpTek -FSDD探測(cè)器, 高分辨率高計(jì)數(shù)率 真空測(cè)試環(huán)境提供輕元素檢測(cè)效果 無(wú)損元素分析涵蓋11Na to 92U 適應(yīng)各種復(fù)雜礦物樣品測(cè)試,固體,液體,合金,粉末和泥漿 多組合濾光片系統(tǒng),有效提高微量元素檢出限 堅(jiān)固的設(shè)計(jì)適用于于各種復(fù)雜而嚴(yán)苛的現(xiàn)場(chǎng)工作環(huán)境

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    廠商性質(zhì):生產(chǎn)廠家
    更新日期:2025-05-12
  • 立式EDX8800H MAX礦石分析光譜儀

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    更新日期:2024-12-23
  • 立式EDX8800H MAX礦石分析光譜儀

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    更新日期:2024-12-18
  • 立式EDX8800H MAX礦石分析光譜儀

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    更新日期:2024-12-12
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    更新日期:2025-01-07
  • EDX-9000B PLUSXRF 礦產(chǎn)礦石專用分析儀

    Simply the Best 先進(jìn)制成Peltier電制冷 FAST SDD硅漂移檢測(cè)器 真空光路配備薄膜濾光片技術(shù),提高輕元素檢出限 可同時(shí)分析40種元素 可分析固體,液體,粉末和泥漿 進(jìn)口X光管管芯提供可靠樣品激發(fā)性能 無(wú)損檢測(cè),快速分析(1-2分鐘出結(jié)果) 無(wú)需化學(xué)試劑,無(wú)耗材,更環(huán)保,更高效

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    更新日期:2025-01-08
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